Details
Titleコードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析
Authors東 誠
 肥後 芳樹
 早瀬 康裕
 松下 誠
 井上 克郎
Referenceソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.
Typeinproceeding
 国内シンポジウム等
DateSep/2/2008
ReviewReviewed
Presenter東 誠
Agenda of conferenceSep/1/2008
Place of conference東洋大学 白山キャンパス
Number719
URL http://ses2008.naist.jp/
Society name情報処理学会
FilesAdobe PDF DocumentPowerPoint Presentation

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