詳細
題名コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析
著者東 誠
 肥後 芳樹
 早瀬 康裕
 松下 誠
 井上 克郎
文献ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.
種類inproceeding
 国内シンポジウム等
日付2008/9/2
査読査読付き
登壇発表者東 誠
会議の日程2008/9/1
会議の開催場所東洋大学 白山キャンパス
番号719
URL http://ses2008.naist.jp/
学会名情報処理学会
ファイルAdobe PDF DocumentPowerPoint Presentation

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