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題名Guilty or Not Guilty: Using Clone Metrics to Determine Open Source Licensing Violations
著者Akito Monden
 Satoshi Okahara
 Yuki Manabe
 Ken-ichi Matsumoto
文献IEEE Software, Special Issue on Software Protection, vol. 28, no. 2, pp. 42-47, March/April 2011.
種類article
 論文
日付2011/3/1
査読査読付き
登録日2011/4/6
番号829
URL http://www.computer.org/portal/web/csdl/doi/10.1109/MS.2010.159
学会名IEEE
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