コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査
題名 | コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査 |
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著者 | 齋藤 晃, 吉田 則裕, 松下 誠, 井上 克郎 |
文献 | 信学技報, vol. 110, no. 227, SS2010-28 - SS2010-38, pp. 19-24, 2010年10月. |
種類 | report / 論文 |
日付 | 2010年10月14日 |
登壇発表者 | 齋藤 晃 |
会議の日程 | 2010年10月14日 |
会議の開催場所 | 岩手県立大学 |
登録日 | 2010年10月20日 |
番号 | 816 |
URL | http://www.ieice.org/ken/program/index.php?tgs_regid=292d4e661ddb41fc88dd9be5b95785af33ec59d32ded05d2fdc85f6ee0736ad3 |
学会名 | 電子情報通信学会 |
ファイル | |
引用形式 | @techreport{2010ID816, author = {齋藤, 晃 and 吉田, 則裕 and 松下, 誠 and 井上, 克郎}, year = {2010}, month = {oct 14}, title = {コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査}, } |