Details
Title欠陥限局および自動プログラム修正のための自動テスト生成と実行経路を用いたテスト選択
Authors入山 優
 肥後 芳樹
 楠本 真二
Bibliographyソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2022
TypeDomestic Symposium
DateSeptember 6, 2022
Presenter入山優
Number1249
URL https://ses.sigse.jp/2022/
Society Name情報処理学会
FilesAdobe PDF Document
BiBTeX
@inproceedings{sel1249,
    author = {入山 優 and 肥後 芳樹 and 楠本 真二},
    title = {欠陥限局および自動プログラム修正のための自動テスト生成と実行経路を用いたテスト選択},
    booktitle = {ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2022},
    year = {2022},
    month = {sep},
}

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