コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析

Titleコードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析
Authors東 誠, 肥後 芳樹, 早瀬 康裕, 松下 誠, 井上 克郎
Referenceソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.
Typeinproceeding / 国内シンポジウム等
DateSep 2, 2008
ReviewReviewed
Presenter東 誠
Agenda of conferenceSep 1, 2008
Place of conference東洋大学 白山キャンパス
ID719
URLhttp://ses2008.naist.jp/
Society name情報処理学会
Files
Citation
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