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Title コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析

Authors 東誠, 肥後芳樹, 早瀬康裕, 松下誠, 井上克郎

Bibliography ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.

Type Domestic Conference

Date September 2, 2008

Review Reviewed

Presenters 東誠

Conference Schedule From September 1, 2008 to

Conference Venue 東洋大学白山キャンパス

Registration Date

Notes

Number 719

URL http://ses2008.naist.jp/

DOI

ISBN

ISSN

Society Name 情報処理学会

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BibTeX

@inproceedings{sel719,
    author = {東 誠 and 肥後 芳樹 and 早瀬 康裕 and 松下 誠 and 井上 克郎},
    title = {コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析},
    booktitle = {ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.},
    address = {東洋大学 白山キャンパス},
    year = 2008,
    month = sep,
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