Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval
| 題名 | Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval |
|---|---|
| 著者 | Norihiro Yoshida, Takeshi Hattori, Katsuro Inoue |
| 文献 | Proceedings of the 4th International Workshop on Software Clones, pp.49-56 |
| 種類 | inproceeding / 国際会議録 |
| 日付 | 2010年5月8日 |
| 査読 | 査読付き |
| 登壇発表者 | Norihiro Yoshida |
| 会議の日程 | 2010年5月8日 |
| 会議の開催場所 | Cape Town International Convention Centre, Cape Town, South Africa |
| 番号 | 800 |
| URL | http://iwsc2010.ist.osaka-u.ac.jp/ |
| 学会名 | ACM |
| ファイル | |
| 備考 | In association with ICSE 2010 |
| 引用形式 | @inproceedings{2010ID800,
author = {Yoshida, Norihiro and Hattori, Takeshi and Inoue, Katsuro},
booktitle = {Proceedings of the 4th {International} {Workshop} on {Software} {Clones}, pp.49-56},
year = {2010},
month = {may 8},
title = {Finding {Similar} {Defects} {Using} {Synonymous} {Identifier} {Retrieval}},
}
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