詳細
題名Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval
著者Norihiro Yoshida
 Takeshi Hattori
 Katsuro Inoue
文献Proceedings of the 4th International Workshop on Software Clones, pp.49-56
種類inproceeding
 国際会議録
日付2010/5/8
査読査読付き
登壇発表者Norihiro Yoshida
会議の日程2010/5/8
会議の開催場所Cape Town International Convention Centre, Cape Town, South Africa
備考In association with ICSE 2010
番号800
URL http://iwsc2010.ist.osaka-u.ac.jp/
学会名ACM
ファイルAdobe PDF DocumentPowerPoint Presentation

戻る