テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法
| 題名 | テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法 |
|---|---|
| 著者 | 大西 理功, 小堀 一雄, 松下 誠, 井上 克郎 |
| 文献 | 電子情報通信学会技術研究報告 SS2014-26 p7-12 |
| 種類 | report / 研究会 |
| 日付 | 2014年10月23日 |
| 登壇発表者 | 大西 理功 |
| 会議の日程 | 2014年9月 |
| 会議の開催場所 | 高知市文化プラザかるぽーと |
| 番号 | 964 |
| URL | http://www.ieice.org/ken/program/index.php?tgs_regid=0a0ab2dba663370ea52eeae87c48dfba1beda853c60e94b9632f2314ec0f27e6&tgid=IEICE-SS&lang= |
| 学会名 | 電子情報通信学会 |
| ファイル | |
| 引用形式 | @techreport{2014ID964,
author = {大西, 理功 and 小堀, 一雄 and 松下, 誠 and 井上, 克郎},
year = {2014},
month = {oct 23},
title = {テストケースを利用した{Java}プログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法},
}
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