Token Comparison Approach to Detect Code Clone-related Bugs
| 題名 | Token Comparison Approach to Detect Code Clone-related Bugs |
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| 著者 | Yii Yong Lee, Yasuhiro Hayase, Makoto Matsushita, Katsuro Inoue |
| 文献 | 電子情報通信学会技術研究報告, SS2007-57〜75, Vol.107, No.505, pp.37-42, 2008. |
| 種類 | report / 研究会 |
| 日付 | 2008年3月3日 |
| 登壇発表者 | Yii Yong Lee |
| 会議の日程 | 2008年2月 |
| 会議の開催場所 | 長崎大学 文教キャンパス 総合研究教育棟1階 108番講義室 |
| 番号 | 689 |
| URL | http://www.ieice.org/ken/program/?tgid=SS&tgs_regid=8eb28d92a32fac54781ff926cd9225701baab249f8decec8f5f377265947c894 |
| 学会名 | 電子情報通信学会 |
| ファイル | |
| 引用形式 | @techreport{2008ID689,
author = {Lee, Yii Yong and Hayase, Yasuhiro and Matsushita, Makoto and Inoue, Katsuro},
year = {2008},
month = {mar 3},
title = {Token {Comparison} {Approach} to {Detect} {Code} {Clone}-related {Bugs}},
}
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