詳細情報

題名 Token Comparison Approach to Detect Code Clone-related Bugs

著者 Yii Yong Lee, Yasuhiro Hayase, Makoto Matsushita, Katsuro Inoue

文献電子情報通信学会技術研究報告, SS2007-57〜75, Vol. 107, No. 505, pp. 37-42

種別国内会議

日付 2008年3月3日

査読査読なし

登壇発表者 Yii Yong Lee

会議の日程 2008年3月〜

会議の開催場所長崎大学文教キャンパス総合研究教育棟1階 108番講義室

登録日

備考

番号 689

URL http://www.ieice.org/ken/program/?tgid=SS&tgs_regid=8eb28d92a32fac54781ff926cd9225701baab249f8decec8f5f377265947c894

DOI

ISBN

ISSN

学会名電子情報通信学会

ファイル

BibTeX

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    author = {Yii Yong Lee and Yasuhiro Hayase and Makoto Matsushita and Katsuro Inoue},
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    address = {長崎大学 文教キャンパス 総合研究教育棟1階 108番講義室},
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