詳細情報

題名 Retrieving Similar Code Fragments based on Identifier Similarity for Defect Detection
著者 Norihiro Yoshida, Takashi Ishio, Makoto Matsushita, Katsuro Inoue
文献 Proceedings of International Workshop on Defects in Large Software Systems (DEFECTS 2008), pp.41-42, 2008
種別 国際会議
日付 2008年7月20日
査読 査読付き
登壇発表者 Norihiro Yoshida
会議の日程 2008年7月20日〜
会議の開催場所 Seattle, USA
登録日
備考 Co-located with ISSTA 2008
番号 706
DOI
ISBN
ISSN
学会名 ACM
ファイル Adobe PDF DocumentPowerPoint Presentation
BibTeX
@inproceedings{sel706,
    author = {Norihiro Yoshida and Takashi Ishio and Makoto Matsushita and Katsuro Inoue},
    title = {{Retrieving Similar Code Fragments based on Identifier Similarity for Defect Detection}},
    booktitle = {Proceedings of International Workshop on Defects in Large Software Systems (DEFECTS 2008), pp.41-42, 2008},
    address = {Seattle, USA},
    year = 2008,
    month = jul,
}

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