コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析
| 題名 | コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析 |
|---|---|
| 著者 | 東 誠, 肥後 芳樹, 早瀬 康裕, 松下 誠, 井上 克郎 |
| 文献 | ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008. |
| 種類 | inproceeding / 国内シンポジウム等 |
| 日付 | 2008年9月2日 |
| 査読 | 査読付き |
| 登壇発表者 | 東 誠 |
| 会議の日程 | 2008年9月1日 |
| 会議の開催場所 | 東洋大学 白山キャンパス |
| 番号 | 719 |
| URL | http://ses2008.naist.jp/ |
| 学会名 | 情報処理学会 |
| ファイル | |
| 引用形式 | @inproceedings{2008ID719,
author = {東, 誠 and 肥後, 芳樹 and 早瀬, 康裕 and 松下, 誠 and 井上, 克郎},
booktitle = {ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.},
year = {2008},
month = {sep 2},
title = {コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析},
}
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