詳細
題名コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析
著者東 誠
 肥後 芳樹
 早瀬 康裕
 松下 誠
 井上 克郎
文献ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.
種別国内会議
日付2008年9月2日
査読査読付き
登壇発表者東 誠
会議の日程2008年9月1日
会議の開催場所東洋大学 白山キャンパス
番号719
URLhttp://ses2008.naist.jp/
学会名情報処理学会
ファイルAdobe PDF DocumentPowerPoint Presentation
BibTeX
@inproceedings{sel719,
    author = {東 誠 and 肥後 芳樹 and 早瀬 康裕 and 松下 誠 and 井上 克郎},
    title = {コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析},
    booktitle = {ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.},
    address = {東洋大学 白山キャンパス},
    year = 2008,
    month = sep,
}

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