詳細情報

題名コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析

著者東誠, 肥後芳樹, 早瀬康裕, 松下誠, 井上克郎

文献ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp103-106, 2008.

種別国内会議

日付 2008年9月2日

査読査読付き

登壇発表者東誠

会議の日程 2008年9月1日〜

会議の開催場所東洋大学白山キャンパス

登録日

備考

番号 719

URL http://ses2008.naist.jp/

DOI

ISBN

ISSN

学会名情報処理学会

ファイル

BibTeX

@inproceedings{sel719,
    author = {東 誠 and 肥後 芳樹 and 早瀬 康裕 and 松下 誠 and 井上 克郎},
    title = {コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析},
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    address = {東洋大学 白山キャンパス},
    year = 2008,
    month = sep,
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