詳細 | |
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題名 | Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval |
著者 | Norihiro Yoshida |
Takeshi Hattori | |
Katsuro Inoue | |
文献 | Proceedings of the 4th International Workshop on Software Clones, pp.49-56 |
種別 | 国際会議 |
日付 | 2010年5月8日 |
査読 | 査読付き |
登壇発表者 | Norihiro Yoshida |
会議の日程 | 2010年5月8日 |
会議の開催場所 | Cape Town International Convention Centre, Cape Town, South Africa |
備考 | In association with ICSE 2010 |
番号 | 800 |
URL | http://iwsc2010.ist.osaka-u.ac.jp/ |
学会名 | ACM |
ファイル | ![]() ![]() |
BibTeX | @inproceedings{sel800, author = {Norihiro Yoshida and Takeshi Hattori and Katsuro Inoue}, title = {{Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval}}, booktitle = {Proceedings of the 4th International Workshop on Software Clones, pp.49-56}, address = {Cape Town International Convention Centre, Cape Town, South Africa}, year = 2010, month = may, } |