| 詳細 | |
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| 題名 | Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval |
| 著者 | Norihiro Yoshida |
| Takeshi Hattori | |
| Katsuro Inoue | |
| 文献 | Proceedings of the 4th International Workshop on Software Clones, pp.49-56 |
| 種類 | inproceeding |
| 国際会議録 | |
| 日付 | 2010/5/8 |
| 査読 | 査読付き |
| 登壇発表者 | Norihiro Yoshida |
| 会議の日程 | 2010/5/8 |
| 会議の開催場所 | Cape Town International Convention Centre, Cape Town, South Africa |
| 備考 | In association with ICSE 2010 |
| 番号 | 800 |
| URL | http://iwsc2010.ist.osaka-u.ac.jp/ |
| 学会名 | ACM |
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