詳細情報

題名 Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval

著者 Norihiro Yoshida, Takeshi Hattori, Katsuro Inoue

文献 Proceedings of the 4th International Workshop on Software Clones, pp.49-56

種別国際会議

日付 2010年5月8日

査読査読付き

登壇発表者 Norihiro Yoshida

会議の日程 2010年5月8日〜

会議の開催場所 Cape Town International Convention Centre, Cape Town, South Africa

登録日

備考 In association with ICSE 2010

番号 800

URL http://iwsc2010.ist.osaka-u.ac.jp/

DOI

ISBN

ISSN

学会名 ACM

ファイル

BibTeX

@inproceedings{sel800,
    author = {Norihiro Yoshida and Takeshi Hattori and Katsuro Inoue},
    title = {{Finding Similar Defects Using Synonymous Identifier Retrieval}},
    booktitle = {Proceedings of the 4th International Workshop on Software Clones, pp.49-56},
    address = {Cape Town International Convention Centre, Cape Town, South Africa},
    year = 2010,
    month = may,
}

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