詳細情報

題名 Guilty or Not Guilty: Using Clone Metrics to Determine Open Source Licensing Violations

著者 Akito Monden, Satoshi Okahara, Yuki Manabe, Ken-ichi Matsumoto

文献 IEEE Software, Special Issue on Software Protection, Vol. 28, No. 2, pp. 42-47

種別論文

日付 2011年3月1日

査読査読付き

登壇発表者

会議の日程〜

会議の開催場所

登録日 2011年4月6日

備考

番号 829

URL

DOI 10.1109/MS.2010.159

ISBN

ISSN

学会名 IEEE

ファイル

BibTeX

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