| 詳細 | |
|---|---|
| 題名 | Guilty or Not Guilty: Using Clone Metrics to Determine Open Source Licensing Violations |
| 著者 | Akito Monden |
| Satoshi Okahara | |
| Yuki Manabe | |
| Ken-ichi Matsumoto | |
| 文献 | IEEE Software, Special Issue on Software Protection, vol. 28, no. 2, pp. 42-47, March/April 2011. |
| 種類 | article |
| 論文 | |
| 日付 | 2011/3/1 |
| 査読 | 査読付き |
| 登録日 | 2011/4/6 |
| 番号 | 829 |
| URL | http://www.computer.org/portal/web/csdl/doi/10.1109/MS.2010.159 |
| 学会名 | IEEE |
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