詳細
題名On the Effectiveness of Accuracy of Automated Feature Location Technique
著者Takashi Ishio
 Shinpei Hayashi
 Hiroshi Kazato
 Tsuyoshi Oshima
文献Proceedings of the 20th IEEE Working Conference on Reverse Engineering, pp.381-390
種類inproceeding
 国際会議録
日付2013/10/14
査読査読付き
登壇発表者Takashi Ishio
会議の日程2013/10/14-17
会議の開催場所University of Koblenz-Lindau, Koblenz, Germany
登録日2013/10/24
備考The dataset of the paper is available at http://sel.ist.osaka-u.ac.jp/FL/
番号908
URL http://wcre.wikidot.com/2013
学会名IEEE
ファイルAdobe PDF DocumentPowerPoint Presentation

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