詳細 | |
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題名 | テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法 |
著者 | 大西 理功 |
小堀 一雄 | |
松下 誠 | |
井上 克郎 | |
文献 | 電子情報通信学会技術研究報告 SS2014-26 p7-12 |
種別 | 国内会議 |
日付 | 2014年10月23日 |
査読 | 査読なし |
登壇発表者 | 大西 理功 |
会議の日程 | 2014年10月23-24日 |
会議の開催場所 | 高知市文化プラザかるぽーと |
番号 | 964 |
URL | http://www.ieice.org/ken/program/index.php?tgs_regid=0a0ab2dba663370ea52eeae87c48dfba1beda853c60e94b9632f2314ec0f27e6&tgid=IEICE-SS&lang= |
学会名 | 電子情報通信学会 |
ファイル | ![]() ![]() |
BibTeX | @inproceedings{sel964, author = {大西 理功 and 小堀 一雄 and 松下 誠 and 井上 克郎}, title = {{テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法}}, booktitle = {電子情報通信学会技術研究報告 SS2014-26 p7-12}, address = {高知市文化プラザかるぽーと}, year = 2014, month = oct, } |