詳細情報
題名
テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法
著者
大西 理功, 小堀 一雄, 松下 誠, 井上 克郎
文献
電子情報通信学会技術研究報告, Vol. 114, No. 271, pp. 7-12
種別
国内会議
日付
2014年 10月23日
査読
査読なし
登壇発表者
大西 理功
会議の日程
2014年 10月〜
会議の開催場所
高知市文化プラザかるぽーと
登録日
備考
番号
964
DOI
ISBN
ISSN
学会名
電子情報通信学会
BibTeX
@inproceedings{sel964,
author = {大西 理功 and 小堀 一雄 and 松下 誠 and 井上 克郎},
title = {{テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法}},
booktitle = {電子情報通信学会技術研究報告},
volume = {114},
number = {271},
pages = {7--12},
address = {高知市文化プラザかるぽーと},
year = 2014,
month = oct,
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