詳細情報

題名 テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法
著者 大西 理功, 小堀 一雄, 松下 誠, 井上 克郎
文献 電子情報通信学会技術研究報告, Vol. 114, No. 271, pp. 7-12
種別 国内会議
日付 2014年10月23日
査読 査読なし
登壇発表者 大西 理功
会議の日程 2014年10月〜
会議の開催場所 高知市文化プラザかるぽーと
登録日
備考
番号 964
DOI
ISBN
ISSN
学会名 電子情報通信学会
ファイル Adobe PDF DocumentPowerPoint Presentation
BibTeX
@inproceedings{sel964,
    author = {大西 理功 and 小堀 一雄 and 松下 誠 and 井上 克郎},
    title = {{テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法}},
    booktitle = {電子情報通信学会技術研究報告},
    volume = {114},
    number = {271},
    pages = {7--12},
    address = {高知市文化プラザかるぽーと},
    year = 2014,
    month = oct,
}

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