井上克郎教授が、Sider Scanを提供するSider社CEOの浅原氏と対談形式のウェビナーにゲストスピーカーとして登壇することになりました(2021/09/08)

テーマ：「コード品質を測るメトリクスの変遷」 開催日時：9月22日（水）17:00～18:00

ウェビナーへの参加申し込みはconnpassで受け付けております。

イベント概要

ここ数十年で、インターネットを取り巻く環境は大きく変化しました。IT/IoT技術を不要とする産業はほぼ無くなり、写真・動画共有SNSやメッセンジャーアプリ、スケジュール管理アプリなど日々利用するものから、決済システムや電子サインなど信用を必要とするもの、さらには生命に関わるADASや飛行制御システムなど、あらゆるシーンでソフトウェアに生活を支えられるようになりました。

一方、それに伴ってソフトウェア開発者を取り巻く環境や社会的責任は増加してきています。不具合を起こすことで発生する金額的損失や時間的損失、また、公共サービスの不具合発生による社会的損失は計り知れないものかもしれません。

当ウェビナーでは、コードクローンやコード検索などを研究してきた井上克郎教授が、これまでに求められていたコード品質を振り返りながら、今求められているもの、またコード品質の未来について、浅原氏と議論していく予定です。